Послойный анализ

ДОКУМЕНТ: Методики | Ref: 209-076-034Скачать
Категория : GD-AES Спектрометры, GD-OES and Depth profiling (QDP), Аналитическое оборудование, Металлургия и металлы

Послойный анализ стали

Новая методика для атомно-эмиссионного спектрометра для определения толщины слоя между двумя стальными листами. Образец был проанализирован на приборе LECO GDS850 по всей глубине — сначала верхний лист стали, затем — слой между листами, затем — нижний лист.

Вернуться